關于伽馬射線探傷

伽馬射線探傷原理：被測物體各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。當X射線或γ射線在穿透被檢物時，射線被吸收的程度也將不同。若射線的原始強度為I0，通過線吸收系數(shù)為μ的材料至距離l后，強度因被吸收而衰減為I，若將受到不同程度吸收的射線投射在X射線膠片上，經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片。這種方法稱為X射線照相法。如用熒光屏代替膠片直接觀察被檢物體，稱為透視法。如用光敏元件逐點測定透過后的射線強度而加以記錄或顯示，則稱為儀器測定法。

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導讀伽馬射線探傷原理：被測物體各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。當X射線或γ射線在穿透被檢物時，射線被吸收的程度也將不同。若射線的原始強度為I0，通過線吸收系數(shù)為μ的材料至距離l后，強度因被吸收而衰減為I，若將受到不同程度吸收的射線投射在X射線膠片上，經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片。這種方法稱為X射線照相法。如用熒光屏代替膠片直接觀察被檢物體，稱為透視法。如用光敏元件逐點測定透過后的射線強度而加以記錄或顯示，則稱為儀器測定法。

伽馬射線探傷原理：被測物體各部分的厚度或密度因缺陷的存在而有所不同。當X射線或γ射線在穿透被檢物時,射線被吸收的程度也將不同。若射線的原始強度為I0,通過線吸收系數(shù)為μ的材料至距離l后，強度因被吸收而衰減為I，若將受到不同程度吸收的射線投射在X射線膠片上,經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片。這種方法稱為X射線照相法。如用熒光屏代替膠片直接觀察被檢物體，稱為透視法。如用光敏元件逐點測定透過后的射線強度而加以記錄或顯示，則稱為儀器測定法。